Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
22.37 Ф37
1724456 ОСН
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; перевод с английского В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев; под редакцией В. В. Белошицкий. – Москва : Мир, 1989. – 342 с. : ил.
Предм. указ.: с. 333-336.
ББК 22.37
-- 1. Поверхностные слои – Ядерно-физический анализ. 2. Пленки тонкие – Ядерно-физический анализ.
22.37 Ф37
1724456 ОСН
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; перевод с английского В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев; под редакцией В. В. Белошицкий. – Москва : Мир, 1989. – 342 с. : ил.
Предм. указ.: с. 333-336.
ББК 22.37
-- 1. Поверхностные слои – Ядерно-физический анализ. 2. Пленки тонкие – Ядерно-физический анализ.