Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сирота, Н. Н. - Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
Сирота, Н. Н. - Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
Статья
Автор: Сирота, Н. Н.
Доклады Академии наук СССР: Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сирота, Н. Н.
Доклады Академии наук СССР: Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводник...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Сирота, Н. Н.
Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводниковых соединений CaAs, InAs, InP в области температур 7—300 К / Н. Н. Сирота, А. А. Сидоров // Доклады Академии наук СССР.– 1985.– Т. 280, № 2.– С. 352-356.
-- 1. Физика.
Сирота, Н. Н.
Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов на рентгенограммах полупроводниковых соединений CaAs, InAs, InP в области температур 7—300 К / Н. Н. Сирота, А. А. Сидоров // Доклады Академии наук СССР.– 1985.– Т. 280, № 2.– С. 352-356.
-- 1. Физика.