Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
Книга
Автор:
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах : сб. ст.
Издательство: Мир, 1965 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах : сб. ст.
Издательство: Мир, 1965 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
548 П85
757280 ОСН
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах : сб. ст. / ред. А. М. Елистратов; пер. с англ. О. Н. Ефимов.– Москва : Мир, 1965.– 351 с. : ил.
548
-- 1. Кристаллы – Дефекты – Сборники.
548 П85
757280 ОСН
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах : сб. ст. / ред. А. М. Елистратов; пер. с англ. О. Н. Ефимов.– Москва : Мир, 1965.– 351 с. : ил.
548
-- 1. Кристаллы – Дефекты – Сборники.
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ОСН | Общий | 1 | 1 | 1 | Заказать |